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Nikon nutzt N-STORM Technologie der Harvard University - exklusives  Abkommen - 2010 - Wiley Analytical Science
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Eclipse L200N Series | Halbleitermikroskope | Nikon Metrology
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Themen 8. Vorlesung. TIRF (Total Internal Reflection Fluorescence  Microscopy) Lichtscheibenmikroskopie (Abk.: LSFM oder SPIM) - PDF  Kostenfreier Download
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Grundlagen - Mikroskopie - PDF Free Download
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Eclipse Ci-POL | Aufrechte Mikroskope | Nikon Metrology
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Lichtmikroskopische Methoden | SpringerLink
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Workshop Sicher dokumentieren und messen Reproduzierbarkeit in der  industriellen Mikroskopie - PDF Kostenfreier Download
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Optische Mikroskopie: Funktionsweise und Kontrastierverfahren | Wiley
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Aufbau von digitalen Videomikroskopen | Edmund Optics
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Workshop Sicher dokumentieren und messen Reproduzierbarkeit in der  industriellen Mikroskopie - PDF Kostenfreier Download
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Flachbauendes Mikroskop - 2013 - Wiley Analytical Science
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Das Mikroskop | SpringerLink
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Lichtmikroskopische Methoden | SpringerLink
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Workshop Sicher dokumentieren und messen Reproduzierbarkeit in der  industriellen Mikroskopie - PDF Kostenfreier Download
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Leica M205 FCA & Leica M205 FA Voll automatisiertes  Fluoreszenz-Stereomikroskop | Produkte | Leica Microsystems
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Workshop Sicher dokumentieren und messen Reproduzierbarkeit in der  industriellen Mikroskopie - PDF Kostenfreier Download
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Rasterkraftmikroskopie in der Analytik von Biomolekülen - 2015 - Wiley  Analytical Science
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